19 марта в 15.15 ауд. 341/1 на физическом факультете состоится совместное заседание технологического семинара ПНППК и Теорфизического семинара. В ходе этого заседания будут обсуждаться физические задачи НИИ радиофотоники и оптоэлектроники ПНППК, при решении которых требуется сотрудничество с физиками, химиками и математиками университета.
Докладчики и названия докладов:
- Актуальные проблемы в технологиях изготовления интегрально-оптических волноводов. Будут обсуждаться нерешенные вопросы связанные с микроструктурой и оптикой волноводных тонких пленок. Поглощение/рассеяние в волноводах – оптические потери в целом.
Докладчик: Козлов Андрей Андреевич – инженер-исследователь 2 кат. НИИ радиофотоники и оптоэлектроники ПАО ПНППК, ассистент кафедры нанотехнологий и микросистемной техники.
- Моделирование и расчет СВЧ электродов для волноводов на ниобате лития/тонкопленочном ниобате лития.
Докладчик: Москалев Дмитрий Николаевич – инженер-исследователь 2 кат. НИИ радиофотоники и оптоэлектроники ПАО ПНППК, ассистент кафедры нанотехнологий и микросистемной техники.
- Исследование рассеяния Бриллюэна в резонансных структурах. Схема гироскопа на данном эффекте.
Докладчик: Гилев Даниил Георгиевич – ведущий инженер-исследователь НИИ радиофотоники и оптоэлектроники ПАО ПНППК, аспирант кафедры нанотехнологий и микросистемной техники.
По окончании планируется в свободной форме обсудить вопросы из следующего расширенного перечня:
- Исследование микроструктуры тонких пленок оксида алюминия (толщиной до 1 мкм). Метод скользящего падения рентгеновского пучка. (+ другие методы).
- Исследование шероховатости тонких пленок методом АСМ (в частности, имеется актуальная задача по оценке шероховатости боковой стенки волноводных структур).
- Моделирование оптических потерь (рассеяния) на длине волны 1,55 мкм в зависимости от определенного размера структуры зерна тонкой волноводной пленки
- Исследование напряжений в тонких пленках диэлектриков (оксид алюминия, оксид кремния, нитрид кремния) и металлах (хром, молибден, медь) и пути их снижения (например, отжиг).
- Моделирование/расчет/исследование системы управляющих электродов для электро- и термооптики на чипе.
- Искажения пилообразной модуляции СИОМ (Мушинский)
- Оптимизация топологии СВЧ электродов ИОМ/ИОФМ, влияние взаимного расположения оптического и СВЧ волноводов.
- Моделирование/расчет/исследование системы СВЧ электродов
- Травление оксида алюминия во влажной химии. Получение структур с вертикальной боковой стенкой и низкой шероховатостью.
- Определение содержания малых концентраций легирующих примесей
- Прямые и косвенные методы определения стехиометрии
- Легирование оксида алюминия редкоземельными металлами (эрбий, иттербий). Расчет концентрации. Расчет эффективной длины волновода для усилителя.
- Исследование рассеяния Бриллюэна в резонансных структурах и гироскопическая схема на данном эффекте
- Теоретическое описание схемы Сахарова полупроводникового лазерного гироскопа
- Разработка алгоритма термокомпенсации для пассивного интегрально-оптического датчика разности электрических потенциалов
- Исследование диэлектрических свойств пластин ниобата лития (X и Z срез) в широком диапазоне частот (до 50 ГГц), построение моделей материала для использования в программных пакетах для разработки планарных СВЧ устройств.
- Разработка методик и исследование диэлектрических свойств тонких пленок на поверхности пластин с большой диэлектрической проницаемостью (более 20) в широком диапазоне частот (до 50 ГГц) построение моделей материала для использования в программных пакетах для разработки планарных СВЧ устройств.
- Исследование температурных дрейфов и разработка алгоритмов термокомпенсации дрейфа резонансной частоты высокодобротных оптических резонаторов в широком диапазоне температур.
- Разработка автоматизированных стендов для контроля СВЧ-электрооптических параметров амплитудных модуляторов (на оборудовании Заказчика)
- Исследование дрейфа рабочей точки амплитудных интегрально-оптических СВЧ модуляторов на ниобате лития и разработка компактного драйвера для стабилизации рабочей точки
- Разработка методов оптической юстировки фотодиодов с низким темновым током в корпусе ROSA
- Разработка технологии сборки фотодиодов СВЧ диапазона
- Исследование характеристик опытных и макетных образцов фотодиодов с низким темновым током и фотодиодов СВЧ диапазона, разработка методик контроля параметров
- Разработка системы технического зрения для юстировки фотонных, оптоэлектронных и волоконно-оптических компонентов (на оборудовании Заказчика)
- Разработка методики измерения оптических параметров фотонных интегральных схем с помощью метода оптической рефлектометрии в частотной области
- Разработка способа нанесения малых повторяемых доз клея в точки с заданными координатами (на оборудовании Заказчика)
- Исследование влияния режима полимеризации клея на соединение волоконный световод-волновод
- Разработка программного обеспечения для автоматизированного комплекса стыковки оптических компонентов
- Разработка конструкции держателя для стыковки оптических компонентов в ограниченном пространстве
- Разработка волоконно-оптического фокусатора с малым диаметром пучка и большим фокусным расстоянием